فیلترها/جستجو در نتایج    

فیلترها

سال

بانک‌ها



گروه تخصصی









متن کامل


نویسندگان: 

Dixit A. | Gupta N.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2021
  • دوره: 

    34
  • شماره: 

    7
  • صفحات: 

    1718-1724
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    30
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

This paper presents a one-dimensional analytical model for calculating Gate Capacitance in Gate-All-Around Carbon Nanotube Field Effect Transistor (GAA-CNFET) using electrostatic approach. The proposed model is inspired by the fact that quantum Capacitance appears for the Carbon Nanotube (CNT) which has a low density of states. The Gate Capacitance is a series combination of dielectric Capacitance and quantum Capacitance. The model so obtained depends on the density of states (DOS), surface potential of CNT, Gate voltage and diameter of CNT. The quantum Capacitance obtained using developed analytical model is 2.84 pF/cm for (19, 0) CNT, which is very close to the reported value 2.54 pF/cm. While, the Gate Capacitance comes out to be 24.3×10-2 pF/cm. Further, the effects of dielectric thickness and diameter of CNT on the Gate Capacitance are also analysed. It was found that as we reduce the thickness of dielectric layer, the Gate Capacitance increases very marginally which provides better Gate control upon the channel. The close match between the calculated and simulated results confirms the validity of the proposed model.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 30

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

Butool S. | Balaji B. | Gowthami Y. | Singh L.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2024
  • دوره: 

    37
  • شماره: 

    12
  • صفحات: 

    2438-2444
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    9
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

This paper presents a novel design and analysis of a Low-k Source side Asymmetrical Spacer Halo doped Nanowire TFET. The utilization of high-k hafnium oxide spacer materials in TFET enhance electrostatic control and minimize short-channel effects in nanoscale devices. However, the performance of dynamic circuits suffers with higher fringe Capacitance brought on by high-k spacers. Our method focuses on reducing Gate Capacitance by optimistic utilization of high-k spacer material. The proposed device is constructed in SILVACO TCAD software and results states that the use of Low-k material as silicon dioxide at the Source-side spacer in halo-doped nanowire TFET design results in significantly reduced Gate-Capacitance and intrinsic-delay. For this proposed TFET device, the circuit performance of advanced nanowire structure can improve drain current characteristics and analog characteristice.  The proposed device exhibits better performance as compared to other spacer engineering devices. As a consequence, the suggested device appears as a strong suitable device for low power digital applications.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 9

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

نشریه: 

Electrochimica Acta

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2021
  • دوره: 

    391
  • شماره: 

    -
  • صفحات: 

    0-0
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    38
  • دانلود: 

    0
کلیدواژه: 
چکیده: 

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 38

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
نویسندگان: 

عقل آرا حسن

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1381
  • دوره: 

    15
  • شماره: 

    1 (پیاپی 57)
  • صفحات: 

    35-44
تعامل: 
  • استنادات: 

    1
  • بازدید: 

    1406
  • دانلود: 

    307
چکیده: 

پلی آنیلین به روش شیمیایی تهیه و در حلال -N متیل پیرولیدون حل شده و فیلمهایی به ضخامت 80 و 100 میکرومتر از آن تهیه شد. از دوپه شدن این فیلمها در محلولهای اسیدی (HCl) با دو غلظت متفاوت در زمانهای دوپه شدن مختلف فیلمهای پلی آنیلین رسانا بدست آمد. از این فیلم ها، صفحات مربعی شکل به ابعاد یک سانتی متر تهیه شد و از فیم های دارای ضخامت و زمان دوپه شدن یکسان به عنوان صفحات رسانا و از کاغذ آغشته به پارافین به عنوان دی الکتریک خازن استفاده شد. در این کار پژوهشی مراحل مختلف ساخت خازن پلی آنیلین رسانا، نتایج اندازه گیریها و محاسبات ظرفیت خازن ساخته شده بر اساس انتشار صفحه مانند دوپه کننده و همچنین پایداری ظرفیت آن در خلا و محیط اتمسفر گزارش شده است. از نتایج معلوم می شود که ظرفیت با افزایش زمان دوپه شدن افزایش می یابد و در مورد فیلمهای پلی آنیلین نارسانای با ضخامت کمتر زودتر به مقدار بیشینه خود می رسد. مقدار بیشینه ظرفیت در شرایط کار در این پژوهش در حدود 42 پیکوفاراد اندازه گیری شد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1406

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 307 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 1 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1396
  • دوره: 

    15
  • شماره: 

    3
  • صفحات: 

    217-222
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    2189
  • دانلود: 

    909
چکیده: 

در این مقاله، یک ترانزیستور HEMT گالیم نیترایدی با یک لایه نیمه هادی نوع P در لایه سد در هر دو سمت سورس و درین (SD-PL) مورد بررسی قرار می گیرد. مهم ترین پارامترهای الکتریکی این ترانزیستور را مانند خازن گیت- سورس، خازن گیت- درین، هدایت انتقالی، فرکانس قطع، میدان الکتریکی افقی، ولتاژ شکست، هدایت خروجی و جریان درین اشباع به وسیله نرم افزار دوبعدی اطلس شبیه سازی می کنیم. نتایج شبیه سازی شده در ساختار پیشنهادی با دو ساختار دیگر با لایه P در سمت سورس (SD-PL) و لایه P در سمت درین (D-PL) و ساختار مرسوم مقایسه می شوند. مطابق نتایج به دست آمده، ساختار پیشنهادی باعث بهبود خازن گیت- سورس، ماکسیمم هدایت انتقالی، فرکانس قطع و هدایت خروجی در مقایسه با ساختار D-PL می گردد. همچنین این ساختار جدید باعث کاهش ماکسیمم میدان الکتریکی در گوشه گیت سمت درین شده و در نتیجه، ولتاژ شکست را به میزان قابل ملاحظه ای در مقایسه با ساختار مرسوم افزایش می دهد. افزایش طول (LP) و ضخامت (TP) لایه P در ساختارهای SD-PL و S-PL باعث بهبود ولتاژ شکست، خازن گیت- سورس، خازن گیت- درین و هدایت خروجی خواهد شد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 2189

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 909 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 1
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1393
  • دوره: 

    11
تعامل: 
  • بازدید: 

    499
  • دانلود: 

    146
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (PDF) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 499

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 146
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1388
  • دوره: 

    3
  • شماره: 

    2 (9)
  • صفحات: 

    19-24
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1368
  • دانلود: 

    294
چکیده: 

جریان درین القا شده از گیت (GIDL) در ترانزیستور اثر میدانی سیلیکان بر روی عایق (SOI MOSFET) یکی از مولفه های اصلی جریان نشتی محسوب می شود. جریان GIDL نقش مهمی را در زمان نگهداری اطلاعات در سلول های DRAM و توان مصرفی در سوئیچ های ترانزیستوری ایفا می کند و به عنوان یکی از عوامل محدود کننده مقیاس پذیری افزاره های SOI MOSFET مطرح می شود. در این مقاله تکنیک جدیدی را برای کاهش جریان GIDL و به دنبال آن جریان حالت خاموش در افزاره SOI MOSFET در ابعاد نانو پیشنهاد می کنیم. با بکارگیری اکسید گیت با ضخامت نامتقارن می توان جریان GIDL را بدون از دست دادن جریان حالت روشن و کنترل گیت بر کانال کاهش داد. کاهش جریان نشتی موجب کاهش توان مصرفی در سوئیچ های ترانزیستوری می گردد. به علاوه نشان داده ایم که طول بهینه ای از کانال وجود دارد که به ازای آن جریان حالت خاموش کمینه می شود بدون آنکه جریان حالت روشن از دست برود.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1368

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 294 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 1
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2023
  • دوره: 

    12
  • شماره: 

    3
  • صفحات: 

    229-235
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    35
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

Today more than ever, we need high-speed circuits with low occupancy and low power as an alternative to CMOS circuits. Therefore, we proposed a new path to build nanoscale circuits such as Quantum-dot Cellular Automata (QCA). This technology is always prone to failure due to its very small size. Therefore, designers always try to design fault-tolerant Gates and provide methods to increase the reliability of QCA. By adding redundant cells, the possibility of some defects such as cell omission and cell addition is somewhat reduced. However, in the face of defects such as stuck-at 0/1 faults, Clock fault and bridging fault. We can greatly increase the fault tolerance by appropriate placement and using fault tolerant Gates with a suitable structure. In this paper, we design the XOR/XNOR Gate with the approach of preventing stuck-at 0/1 fault, clock fault, and bridging fault using the first NNI Gate tolerating cell addition fault.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 35

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2015
  • دوره: 

    4
تعامل: 
  • بازدید: 

    174
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

DIFFERENT SCIENTISTS HAVE TRIED TO COMBINE PETROPHYSICS, GEOPHYSICS, AND THERMODYNAMICS WITH ECONOMIC FACTORS IN ORDER TO FIND OUT THE BEST RECOVERY SCENARIO. HAVING A GOOD PRODUCTION SCENARIO AND A PROPER FIELD DEVELOPMENT STRATEGY REQUIRE TEDIOUS CALCULATIONS AND SIMULATIONS. PRESENT COMMERCIAL SIMULATORS ARE COMPLEX TO WORK WITH AND TIME-CONSUMING;  THEREFORE, HAVING AN OVERVIEW BY LESS PRIMARY DATA IS NECESSARY TO MANAGE THE FIELD AND TO OPTIMIZE THE RECOVERY. IT WAS A TRIGGER FOR RESERVOIR ENGINEERS TO DEVELOP A FAST AND RELIABLE SIMULATOR. SIMPLE PREDICTIVE MODELS, WHICH USUALLY USE MATERIAL OR ENERGY BALANCE ON A RESERVOIR TO FIND OUT ITS PERFORMANCE, ARE VERY FAST AND LOW-COST.Capacitance-RESISTANCE MODEL (CRM) SHOWED EFFICIENT AS A FAST RESERVOIR SIMULATION TOOL USING FIELD-AVAILABLE DATA OF PRODUCTION AND INJECTIONS RATES. THIS APPROACH SETS A WEIGHTING FACTOR OR WELL-CONNECTIVITY PARAMETER AND A TIME-CONSTANT BETWEEN EACH PAIR OF INJECTION AND PRODUCTION WELLS ACCORDING TO THEIR HISTORY. IN THIS STUDY, A REAL CASE HAS BEEN MODELED USING CRM AND AN EFFICIENT AND OPTIMUM FIELD TIME-CONSTANT, WHICH COULD BE USED FOR ENTIRE FIELD, HAS BEEN DETERMINED USING CRM SIMULATION RESULTS. ITS ACCURACY IS VERIFIED BY COMPARING THE TOTAL OIL PRODUCTION RATE ERROR AND WELL-PAIR CONNECTIVITIES BETWEEN ORIGINAL AND OPTIMUM CASES.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 174

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0
نویسندگان: 

AFZAL A. | MOUSAVI S.F. | KHADEMI M.

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    2010
  • دوره: 

    12
  • شماره: 

    3
  • صفحات: 

    339-346
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    729
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

Water is one of the most vital constituents in plants. In this research, for an estimation of leaf moisture content, the variation of Capacitance was employed. The variations were measured via designed and manufactured capacitive sensors. The objective of the research was to estimate leaf moisture content by measuring its Capacitance for five agronomic crops. Experiments for measuring leaf Capacitance were performed on maize, sorghum, capsular bean, white bean and sunflower at two frequencies of: 100 kHz and 1 MHz. The results showed that in all cases the best fitted curve for variations of the Capacitance in relation to leaf moisture percentage was in the form of an exponential function namely: y= aebx (where y is Capacitance, x is leaf moisture content, a is the linear coefficient, and b is the exponential coefficient). Parameters a and b for different plants of each crop and each frequency were not significantly different at 1% probability level. However, these coefficients were significantly different among different crops. Coefficients of determination were higher at 100 kHz than at 1 MHz. It was also observed that the higher the leaf moisture the more the data points scattered around the best-fit line, although the scattering was more uniform at 1 MHz.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 729

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
litScript
telegram sharing button
whatsapp sharing button
linkedin sharing button
twitter sharing button
email sharing button
email sharing button
email sharing button
sharethis sharing button